HORIBA堀场 LA-1000 颗粒尺寸分配器

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HORIBA堀场 LA-1000 颗粒尺寸分配器

HORIBA堀场 LA-1000 颗粒尺寸分配器

HORIBA堀场 LA-1000 颗粒尺寸分配器HORIBA堀场 LA-1000 颗粒尺寸分配器激光衍射/散射粒子尺寸分布测量与动态图像粒子形状分析的集成，使得高效的粒子分析和多方面分析成为可能！Partica是旗舰型号，将激光衍射/散射和动态成像两种测量方法结合在一台机器中。 通过一台机…

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Product Detail

HORIBA堀场  LA-1000 颗粒尺寸分配器

HORIBA堀场  LA-1000 颗粒尺寸分配器

激光衍射/散射粒子尺寸分布测量与动态图像粒子形状分析的集成，使得高效的粒子分析和多方面分析成为可能！

Partica是旗舰型号，将激光衍射/散射和动态成像两种测量方法结合在一台机器中。 通过一台机器中通过激光衍射获取“颗粒尺寸测量分布”和动态图像“颗粒形状”信息，测量时间大幅缩短，有助于研发和质量控制的效率和空间节省。 除了液体颗粒外，它还能对粉末和糊状等不同状态的样品进行图像分析。

该装置的主要特点

  • 激光衍射与散射颗粒尺寸分布测量与动态成像粒子形状分析的集成

  • 两台相机能够在广泛的颗粒尺寸范围内获取粒子图像

  • 多种样品形式的颗粒尺寸和形状分析，包括液体、浆料和粉末，

  • 高度可定制且可扩展的平台

模型LA-1000LA-1000N
测量方法

流量单元测量
干测量＊
小流量测量＊
批量单元测量＊
高浓度、低粘度电池测量＊
浆料单元测量＊

*需要专用选项

干测量＊
小流量测量＊
批量单元测量＊
高浓度、低粘度电池测量＊
浆料单元测量＊

*需要专用选项

测量时间约1分钟（从流细胞测量中的分散注入到循环系统清洁和颗粒粒径分布结果显示）



可滚动

激光衍射测量单元

模型LA-1000LA-1000N
测量原则米氏散射理论
合规标准ISO13320：2020
测量颗粒尺寸范围0.01~5000微米
测量分部光学系统光源：半导体激光器（650nm）5mW / 发光二极管（405nm）最高10mW
探测器：1个环形64段硅光电二极管× x 4个阵列探测器 × 5个4声道阵列探测器 / 3个硅光电探测器×



可滚动

动态成像测量单元

模型LA-1000LA-1000N
测量原则动态图像分析方法
合规标准ISO13322-2021年2月2日
测量颗粒尺寸范围1 ~ 3000微米（用于流细胞测量）
测量分部光学系统光源：白色LED，探测器：CMOS传感器