HORIBA堀场 AFM 表面分析仪

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HORIBA堀场 AFM 表面分析仪

HORIBA堀场 AFM 表面分析仪

HORIBA堀场 AFM 表面分析仪HORIBA堀场 AFM 表面分析仪1单位2角色！ 利用TERS和SNOM技术制作纳米成像设备也是可能的！*AFM：原子力显微镜*TERS：尖端增强拉曼光谱*SNOM：扫描近场光学显微镜这是一种集成装置，可在单一单元内完成AFM测量和拉曼光谱测量，而无需移动样品。 …

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HORIBA堀场 AFM 表面分析仪

HORIBA堀场 AFM 表面分析仪

1单位2角色！ 利用TERS和SNOM技术制作纳米成像设备也是可能的！

*AFM：原子力显微镜
*TERS：尖端增强拉曼光谱
*SNOM：扫描近场光学显微镜

这是一种集成装置，可在单一单元内完成AFM测量和拉曼光谱测量，而无需移动样品。 它可以通过照射激光等的对准机制轻松操作，实现高速数据处理和高可靠性。 利用TER和SNOM测量实现纳米成像也成为可能。

AFM-Raman + XploRA 加→XploRA 纳米
AFM-Raman + LabRAM Soleil　→LabRAM Soleil Nano
AFM-Raman + LabRAM Odyssey　→LabRAM 奥德赛纳米
可滚动
扫描范围100微米 x 100微米 x 15微米（±10%）
噪音XY：0.02 nm（均方根，带宽 100 Hz，电容传感器关闭）
Z：0.04 nm（均方根，带宽 1000 Hz）
最大样本量40毫米 x 50毫米 x 15毫米（高度× ×宽）
样本定位电机驱动范围5 x 5 毫米
样品定位位置精度1微米
可滚动

AFM头部

激光波长1300 nm
系统噪声< 0.1 nm
可滚动

SPM 测量模式

  • 联系AFM（空气，液体（可选））

  • 半接触式AFM（空气中，液体中（可选）

  • 非接触式AFM

  • 相位成像

  • 水平力显微镜（LFM）

  • 力调制显微镜（FMM）

  • 导电式AFM

  • 磁力显微镜（MFM）

  • 开尔文探针力显微镜（KPFM）

  • 静力显微镜（EFM）

  • 力曲线测量

  • 压电响应力显微镜（PFM）

  • 纳米光刻

  • 纳米操控

  • STM（可选）

  • 光电流映射（可选）

  • 电压-电流特性测量（可选）

光谱测量模式

  • 拉曼光谱

  • 荧光光谱学

  • 光致发光光谱学

  • 尖端增强拉曼光谱（TERS）

  • 尖端增强光致发光光谱（TEPL）

  • STM

  • 国家社会主义运动/国家运动