ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000A

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ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000A

ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000A

ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000AULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000AUNECS系列是一种光谱椭球仪，能够高速且高精度地测量薄膜的厚度和折射率。它采用了一种独特的测量方法，以实现高速测量和紧凑型。UNECS-1500A配备150毫米自动R-θ级和自动对焦功能，可…

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Product Detail

ULVAC爱发科  高速光谱椭圆仪  UNECS-2000A

ULVAC爱发科  高速光谱椭圆仪  UNECS-2000A

UNECS系列是一种光谱椭球仪，能够高速且高精度地测量薄膜的厚度和折射率。
它采用了一种独特的测量方法，以实现高速测量和紧凑型。
UNECS-1500A配备150毫米自动R-θ级和自动对焦功能，可快速自动测量基底表面的薄膜厚度分布，并以色彩图形式显示结果。

特色

  • 高速测量：
    独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。

  • 可见光光谱支持：
    波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。

  • 紧凑型传感器单元：
    投影和接收传感器仅由光学元件组成，无旋转机构，极为轻便紧凑，无需定期维护。

  • 150mm自动级：
    配备Φ150mm的自动R-θ级和自动对焦功能，能够在板面内进行自动定位测量。

用途

  • 测量透明或半透明薄膜（如氧化物、氮化物、抗蚀剂、ITO等）的薄膜厚度、折射率和衰减系数

规格

模型1500A2000A3000A
波长范围530~750nm，380~760nm（任一选择）
斑点直径Φ1mm，Φ0.3mm（任一选项）
入射角70°凝视
薄膜厚度的可重复性1σ = 0.1nm
胶片厚度范围1nm~2μm
测量时间光信号接收：20毫秒 ~ 3000毫秒 操作时间：300毫秒
舞台Φ150毫米自动Φ200毫米自动Φ300毫米自动
自动测量200分200分2000分
控制电脑笔记本类型（含操作和分析软件）
设备配置测量本体、控制器、笔记本电脑（笔记本电脑类型）、说明书（CD）



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