OTSUKA大塚电子测量仪器 MINUK

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OTSUKA大塚电子测量仪器 MINUKOTSUKA大塚电子测量仪器 MINUKMINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。特点1.凭借宽视野（ 700μm）…

OTSUKA大塚电子测量仪器 MINUK

MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

特点

1.凭借宽视野（ 700μm）与高分辨率（488nm），在测量对象中搜寻异物中无需耗费精力。

以往，由于视野范围狭窄，在查找异物等目标位置时，不得不反复扫描被测对象的全域。MINUK

无需通过成像光学系统，可直接记录样品光，从根本上解决了透镜的像差问题，实现大深度、宽视野、无像差的成像效果。

2.可捕捉深度 1400μm 的全域信息，支持任意高度切片观测1次测量即可获取相当于数千张图像的信息量

以往，无论需要观测的位置在哪里，都需要持续拍摄数千张图像才能定位目标区域。

而 MINUK 可瞬时完成 700×700μm 平面范围、1400μm 深度方向的信息采集。设备以约 2μm 的轴向分辨率生成约 700 张切片图像，通过对这些数据进行数字重聚焦处理，即可对样品三维结构开展追加验证分析。

3.将透过率和折射率的三维分布可视化，将肉眼无法看到的纳米级表面形状数值化

以往传统设备难以完成对焦操作，无法实现数据量化分析。而MINUK可对人眼不可见的纳米级表面形貌进行定量测量，还能检测微小的折射率变化。

规格

分辨率 x , y	6 9 1n m（一次拍照）、4 8 8 n m（合成）
视野 x , y	7 0 0×7 0 0μm
分辨率 z	10nm（相位差）
视野 z	±700μm
样品尺寸	10 0×8 0×t 2 0 mm（安装通用样品架时）
样品台	微动X Y样品台（自动） X:±10 mm Y：±10 mm 粗动样品台 X：12 9 mm Y：8 5 mm
激光	波长 6 3 8 nm 输出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 对测量样品的照射强度)
尺寸（长×宽×高）mm	本体：5 0 5（W）×6 3 0（D）×4 3 9（H） ± 2 0 m m ※不含P C、附属品
重量	41k g
功耗	本体：2 9 0 VA ※不含P C、附属品

高斯摩代理品牌：EYE岩崎、SEN日森、CCS晰写速、NPM日脉、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克、SONIC索尼克、SANKO三高、TOPCON拓普康、TOKI东机产业、NEWKON新光、HAYASHI林时计、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山电机、OHKURA大仓、ULVAC爱发科

优势品牌：USHIO牛尾、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC
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AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野、IMV艾目微
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SHOWA昭和、THINKY新基、SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤
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优势产品：日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
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地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪，接近开关、拉拔机、异音检测仪、下死点检测装置高斯摩代理品牌：EYE岩崎、SEN日森、CCS晰写速、NPM日脉、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克、SONIC索尼克、SANKO三高、TOPCON拓普康、TOKI东机产业、NEWKON新光、HAYASHI林时计、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山电机、OHKURA大仓、ULVAC爱发科

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