OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000PP-1000小角激光散射仪,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光Hv散射测量…
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
PP-1000小角激光散射仪,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价,解析结晶性薄膜的球晶半径,偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。
特点
● 0.33 ~ 45°散射角度的测量,最短测试时间10 毫秒
● 检测范围0.1μm ~数十微米
● 可以在专用溶液单元中测量溶液样本
● Hv散射,Vv散射测量可以在软件上轻松切换
测量项目
测量椭圆参数(TANψ,COSΔ)
光学常数(n:折射率,k:消光系数)分析
薄膜厚度分析
用途
高分子材料评价
结晶性胶片
结晶化温度、球晶直径、结晶化速度
配光、光学异方性
聚合物混合
相分离过程和相关距离(分散度)
高分子凝胶
三维架桥结构的大小
树脂
热硬化树脂和UV硬化树脂的硬化速度
粒子物性评价
粒子直径,凝聚速度
规格
測定原理 | 小角光散射法 |
光源 | 半导体激光器 (波長785nm) |
检测器 | CMOS照相机 |
測定散乱角度 | 0.33°~45° |
散射图样 | Hv光散射、Vv光散射 |
光斑直径 | 約1mm |
动态范围 | 120db以上 (使用HDR功能時) |
測定時間 | 10msec~ ※ |
解析項目 | 球晶半径、相关距离 |
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