OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300特点● Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成● 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐● 支持半导体工艺的高吞吐量要求● 支持槽口对齐功能● 小尺寸规格● 高精度自动校准单元规格自动Mapping系统式样…
OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300
OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300
特点
● Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成
● 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐
● 支持半导体工艺的高吞吐量要求
● 支持槽口对齐功能
● 小尺寸规格
● 高精度自动校准单元
规格
自动Mapping系统式样表 | |||
名称 | 自动Mapping系统 | Load Port对应膜厚仪 | |
型式 | - | - | GS-300 series |
样品台方式 | X-Y样品台 | R-θ样品台 | |
光学系 | 测量探头 CCD相机 | 同轴显微测量头 IR相机 | |
最大晶圆尺寸 | 150mm以下 | 300mm以下 | 仅Ф300mm |
晶圆角度补正 | 有 | ||
Pattern对准 | 有 | ||
晶圆厚度范围 | 视分光干涉式晶圆厚度传感器的式样而定 | ||
设备尺寸(W×D×H)mm | 本体:570x600x780 | 本体:773x760x600 | 500x500x1680 |
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