SANKO山高 膜厚计 UDM-1100SANKO山高 膜厚计 UDM-1100特征本测试仪通过使用已知硬度的铅笔芯在涂层上划痕,并测定划痕程度,来评估涂层的硬度和附着强度(阻力、塑性变形、内聚破坏等)。它具有多种标准化测试条件的功能,使其易于使用和操作。符合JIS K5600-5-4、IS…
SANKO山高 膜厚计 UDM-1100
SANKO山高 膜厚计 UDM-1100
特征
本测试仪通过使用已知硬度的铅笔芯在涂层上划痕,并测定划痕程度,来评估涂层的硬度和附着强度(阻力、塑性变形、内聚破坏等)。它
具有多种标准化测试条件的功能,使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363标准。
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