OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50

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OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50

OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50

OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50nanoSAQLA＋AS50 是日本大塚电子（OTSUKA）推出的台式动态光散射（DLS）纳米粒径分析系…

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Product Detail

OTSUKA 大塚电子  多样品纳米粒径测量系统    nanoSAQLA＋AS50

OTSUKA 大塚电子  多样品纳米粒径测量系统    nanoSAQLA＋AS50


OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA＋AS50

nanoSAQLA＋AS50 是日本大塚电子（OTSUKA）推出的台式动态光散射（DLS）纳米粒径分析系统，由 nanoSAQLA 主机与 AS50 自动采样器组成，专为液体中纳米至微米级颗粒的粒径、分布及分散稳定性进行高通量、高精度测试。


这是一种颗粒尺寸测量系统（颗粒尺寸0.6 nm - 10 μm*），采用“动态光散射法”（DLS方法）。
还包含了多种功能以进一步提升质量控制。
该系统测量速度极快（约1分钟），且体积轻便紧凑，这对实验室使用至关重要，该新型光学系统能够依序测量多个样品，浓度范围从稀释到浓缩。

此外，它是新产品，未浸泡在液体中（非浸入式），因此不会有污染问题，使用时最多可测量5个样品而不中断。
经直方图分析的最小值：0.2纳米


特色

■nanoSAQLA的特点

  • 简单快速的一次性设置，最多可采集5个样品，且在不同条件下使用。

  • 测量稀释和高浓度样品

  • 测量时间大约为1分钟+。

  • 包含温度梯度函数

  • 无污染连续测量

■AS50的功能

  • 最多连续50个采样

  • 添加样本作为度量

  • 轻松设置样品

  • 一次更换最多50个样品

  • 对于有机溶剂（玻璃一次性电池）

  • 样品体积 0.4毫升~

 

测量范围（理论值）

  • 颗粒尺寸范围为0.6 nm-10 μm*

  • 适用浓度范围 0.00001-40%

  • 温度范围 0-90°C
    直方图分析后最小值：0.2 nm


系统构成与特点

1）nanoSAQLA 主机

  • 紧凑型设计，内置 5 位独立样品槽，非浸入式、无交叉污染

  • 自动优化测量位置，浓 / 稀样品无需稀释直接测

  • 一键式简易测量软件，操作直观

  • 支持温度梯度测试，用于材料相变与稳定性研究

2）AS50 自动采样器

  • 50 位全自动连续测量，大幅提升高通量实验室效率

  • 测量过程中可随时追加样品，无需停机

  • 独立光路＋一次性比色皿，彻底避免 carry-over

  • 适配水相、有机相多种分散体系

核心优势

高通量高效：50 样无人值守，1 分钟 / 样，适合批量 QC 与研发

宽浓度兼容：0.00001%–40%，高浓样品免稀释

微量样品：仅需 0.4 mL，珍贵样品也可测试

温度梯度：0–90℃，可做稳定性与相变研究

防污染：一次性独立比色皿，无交叉污染风险