OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪 nanoSAQLA

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OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪 nanoSAQLA

OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪 nanoSAQLA

OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪 nanoSAQLAOTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪 nanoSAQLAnanoSAQLA 是日本大塚电子推出的台式动态光散射（DLS）纳米粒径分析仪主机，主打 “非浸入式、多样品、宽浓度、防污染”，可独立使用或搭配 AS50 自动采样器组成高通量系统。这是一种…

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Product Detail

OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪  nanoSAQLA

OTSUKA 大塚电子 纳米粒径分析仪  nanoSAQLA


nanoSAQLA 是日本大塚电子推出的台式动态光散射（DLS）纳米粒径分析仪主机，主打 “非浸入式、多样品、宽浓度、防污染”，可独立使用或搭配 AS50 自动采样器组成高通量系统。

这是一种颗粒尺寸测量系统（颗粒尺寸0.6 nm - 10 μm*），采用“动态光散射法”（DLS方法）。
还包含了多种功能以进一步提升质量控制。
该系统测量速度极快（约1分钟），且体积轻便紧凑，这对实验室使用至关重要，该新型光学系统能够依序测量多个样品，浓度范围从稀释到浓缩。

此外，它是新产品，未浸泡在液体中（非浸入式），因此不会有污染问题，使用时最多可测量5个样品而不中断。
经直方图分析的最小值：0.2纳米


特色

■nanoSAQLA的特点

  • 简单快速的一次性设置，最多可采集5个样品，且在不同条件下使用。

  • 测量稀释和高浓度样品

  • 测量时间大约为1分钟+。

  • 包含温度梯度函数

  • 无污染连续测量

 

测量范围（理论值）

  • 颗粒尺寸范围：0.6 nm-10 μm*

  • 适用浓度范围 0.00001-40%

  • 温度范围 0-90°C
    直方图分析后最小值：0.2 nm