OTSUKA 大塚电子 颗粒分析仪 ELSZ‑2000 + ELSZ‑PT

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OTSUKA 大塚电子 颗粒分析仪 ELSZ‑2000 + ELSZ‑PT

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OTSUKA 大塚电子  颗粒分析仪  ELSZ‑2000 + ELSZ‑PT

OTSUKA 大塚电子  颗粒分析仪  ELSZ‑2000 + ELSZ‑PT


ELSZ-2000 主机搭配ELSZ-PT 平面样品组件组成，一机实现液相颗粒粒径、颗粒 Zeta 电位与固体平面表面 Zeta 电位三大检测功能，兼顾胶体分散体系与各类平板、薄膜、涂层材料表征，广泛应用于化工、生物医药、膜材料、半导体、表面工程等领域

ELSZ-2000 主机（液相测试）

  • 粒径测试范围：0.6 nm ~ 10 μm

  • 样品浓度：0.00001% ~ 40%，高浓度样品可直接测试，无需稀释

  • 样品用量：粒径测试约 0.9 mL；颗粒 Zeta 电位测试最低 130 μL

  • 可选配静态光散射模块，实现高分子 / 蛋白分子量检测

ELSZ-PT 平面组件（固体测试）

  • 适配样品：平整基材、功能薄膜、涂层、滤膜、晶圆、金属 / 玻璃板材等

  • 样品规格：最小尺寸 10×10 mm，厚度≤5 mm

  • 安装形式：模块化快装，液、固测试模式快速切换，共用主机软件系统

  • 适配高盐溶液体系，可模拟实际工况检测

产品主要特点

  1. 功能集成：一套设备兼顾液相颗粒分析与固体表面电位检测，设备利用率高

  2. 测试稳定：搭载外差光学检测技术，高盐、高低浓度样品均可稳定出数

  3. 宽域温控：全域控温 + 温度梯度功能，可开展热稳定性、温度响应相关研究

  4. 操作便捷：组件拆装简单，样品装夹方便，自动化测试，数据重复性好

  5. 微量检测：液相测试支持微量进样，节省珍贵实验样品