OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器 （离线型）

产品目录

OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器 （离线型）

OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器 （离线型）

OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器 （离线型）OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器 （离线型）该离线显示器能轻松检测胶片厚度、不均匀、“mura”等全片区域，用于生产线的研发和取样检查。整个胶片区域可以高速且高精度地测量。特色高速且高精度地检测胶片厚度不均匀的“…

产品详情

Product Detail

OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器  （离线型）

OTSUKA 大塚电子 线扫描厚度监测器  （离线型）


该离线显示器能轻松检测胶片厚度、不均匀、“mura”等全片区域，用于生产线的研发和取样检查。
整个胶片区域可以高速且高精度地测量。

特色

  • 高速且高精度地检测胶片厚度不均匀的“mura”

  • 硬件和软件的原始设计

  • 作为专注于薄膜厚度测量的制造商，我们可以提供更丰富的支持

  • 通过光谱计量测量高精度胶片厚度（专利）

  • 高速测量是可能的（超过500万点/分钟）

规格

测量项目薄膜厚度（FFT）
空间分辨率1毫米或更细
样本量最大宽度250毫米 x 长度无限
每个元件的波长宽度约0.6纳米
胶片厚度范围2 ~ 300微米
扫描间隔10毫秒~
设备尺寸W459 × D609 × H927 毫米
重量约60公斤