OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪

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OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪

OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪

OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪特色针对不同应用量身定制的各种探测器我们提供涵盖三种类型和12波段的探测器系列，包括高端的MCPD-9800，旨在为您的需求和测量应用量身定制最优探测器。 通信接口…

产品详情

Product Detail

OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪

OTSUKA 大塚电子 MCPD-9800 薄膜厚度测量多通道光谱仪

特色
针对不同应用量身定制的各种探测器

我们提供涵盖三种类型和12波段的探测器系列，包括高端的MCPD-9800，旨在为您的需求和测量应用量身定制最优探测器。

评估方法及相应探测器

 

通信接口支持 USB 和局域网

它配备了通用USB端口和局域网通信，支持远程测量，扩展了便利性和测量应用。

 

高速高灵敏度测量光谱

利用512ch或1024ch检测元件和探测器内部存储器，可以以高灵敏度和高精度每5毫秒测量紫外、可见光和近红外区域的发射、透射和吸收光谱，这些区域不断变化。

光纤的光学自由

标准光纤允许你自由组装光学系统，不受样品形状或尺寸限制。 此外，它易于与显微镜和大型舞台等其他设备结合，在任何领域都能提供卓越的性能。

 

可靠性
符合日本工业标准（JIS）标准！ 能够提供高性能光谱仪

MCPD（2285C， 3095C， 3683C）符合日本工业标准JIS Z 8724：2015（光源颜色测量方法）对光谱仪的要求精度，因此你可以放心使用。

可追溯到国家标准！ 我们提供可靠的服务。

大塚电子光学测量与评估中心获得JCSS校准供应商认证，符合基于《测量法》的国际MRA*2校准企业注册系统（JCSS*1注册系统）。 为了公平评估照明器具和光源的性能，国内外正在推动各种标准化，如测量光特性的方法，这些系统所需的测光基本基于“光”的可追溯性。 通过其“光”校准业务，大塚电子致力于通过提供光度可追溯性，促进节能环保照明的传播与发展。
*1 日本校准服务系统（JCSS）：根据计量法的校准业务登记系统
*2 国际互认协议（MRA）：国际互认

定制订单
我们通过定制生产满足多样化的需求！

我们提供多种配件、可选单元和分析软件。 为了提供尖端且有价值的方案，我们凭借积累的技术和专业知识，提供“最佳系统”

设备配置

胶片厚度测量系统
胶片厚度测量系统应用
♪ 薄膜厚度、涂层薄膜和保护薄膜
◎ 晶圆、玻璃基板和铝基板的薄膜厚度

 

显微光谱测量系统
显微光谱测量系统应用
♪ 显微镜下的微点测量（反射、透射、吸收）
♪ 薄膜厚度测量（薄膜、各种基底上的薄膜、保护薄膜）

 

多点测量系统
多点测量系统应用：
★ 测量抗反射薄膜的反射率
★ 涂层薄膜厚度测量
★ 各种基材的厚度测量

 

Traverse 飞机兼容系统
Traverse 飞机兼容系统应用：
♬ 测量防反光薄膜厚度和反射率
₀ 功能性薄膜质量控制