日本ADCMT 爱德万 8252 数字电计

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日本ADCMT 爱德万 8252 数字电计

日本ADCMT 爱德万 8252 数字电计

日本ADCMT 爱德万 8252 数字电计日本ADCMT 爱德万 8252 数字电计数字电计8252直流电压测量：3伏~200伏范围，最低分辨率10微伏直流电流测量：30 pA~30 mA，最低分辨率1 fA电阻测量：3 kΩ~200 GΩ范围，最小分辨率10 mΩ电荷测量：1 nC~10 μC，最小分辨率1 fC 200 伏…

产品详情

Product Detail

日本ADCMT 爱德万  8252  数字电计

日本ADCMT 爱德万  8252  数字电计


数字电计8252

  • 直流电压测量：3伏~200伏范围，最低分辨率10微伏

  • 直流电流测量：30 pA~30 mA，最低分辨率1 fA

  • 电阻测量：3 kΩ~200 GΩ范围，最小分辨率10 mΩ

  • 电荷测量：1 nC~10 μC，最小分辨率1 fC

  • ± 200 伏电压产生函数

  • 电压电阻测量结果为2×1017能够测量Ω

  • 优化用于评估具有多种滑差测量功能的设备

8252是一款高性能的51/2位数字电计，具备200伏的电压产生能力±它测量1 fA电流，在±范围210 V时可测量2×1014它能够测量Ω高输入阻抗电压、210 GΩ电阻和1fC电荷测量。

此外，采用多种扫描功能产生电压，非常适合评估各种器件和材料。在电流测量方面，采用积分法（ICV）实现了对感应噪声的抵抗和高速测量。

此外，在绝缘电阻测量中，VSRM（施加电压电阻测量）函数使得2×1017Ω是可以测量的。

特色

电压产生与各种扫频功能

8252内置200伏可编程电源±。有两种代际模式：正常模式，与测量异步操作;扫描模式，随测量同步变化。有三种扫描模式：固定、线性和随机，允许您根据应用选择最佳扫描测量。

  • 固定扫描测量：用于

    在准确充电时间后测量绝缘电阻。
    偏置值：用户设定的值，扫描开始前。
    TD：重大延迟。

  • 线性扫描测量
    ：用于二极管、场效应晶体及其他半导体的I-V特性测量

  • 随机扫频测量：高速测量与
    随机电压生成同步

实现测量以最小化噪声影响

传统电计输入阻抗较高，可实现微电流和高电阻测量，但缺点是易受外部噪声影响。8252采用以下功能以最大限度减少噪声影响。

  • 低噪声双同轴（三轴）输入电缆，防止因电缆振动产生的噪声

  • 采用抗
    噪声积分方法 - 一种积分型电流-电压转换器，相比传统反馈
    方法具有更好的抗噪能力 - 一种高动态范围AD转换器，具备高噪声去除率（2~3倍全量程噪声）
    - 积分时间变化范围为1毫秒~1秒

  • 利用移动平均去除噪声的平滑函数

驱动保护功能，能够快速测量高阻抗信号源的电压和电阻

在测量电压和电阻时，当信号源或测得的电阻较高（100 MΩ或更高）时，由于电缆电容和Hi-Lo端子间的浮动电容，响应速度会减慢。 例如，如果信号源电阻为1000 MΩ，电缆电容为100 pF，此时响应时间常数（t = 100毫秒）约为700毫秒，直到电缆进入最终值的±0.1%。 为提升响应，8252采用了驱动保护系统，使输入线内的屏蔽与输入电压电位相同，从而使Lo端子表面的阻抗为零。 此外，从测量输入端流向Lo端的漏电流通过电缆和连接器减少，从而提高表观绝缘电阻。 使用此功能，您的回复速度会快十倍以上。

与驾驶护板测量：
当进行驱动护板时，输入电缆的芯线和内屏蔽的电位相同，忽略输入电缆的电容CX1。 此外，由于内外屏蔽之间的区域阻抗较低，CX2也被忽略。

接触检查功能用于检测接触不良


8252 通过其接触检查功能，能够检测测量电缆与样品之间、测量电极之间，或夹具与样品之间的接触不良。 该接触检查功能测量并确定每次测量在扫描开始时的正常模式和扫描模式时测量输入端子、LO端子或电压产生端子之间的电容。

处理接口和针对线路使用的通过/失败检测优化

8252 标配 GPIB 和单线信号，用于触发、COMPLETE、联锁，以及用于与自动机器接口的处理接口。 此外，它还具有比较函数作为计算功能，当与接触检查函数一起使用时，可以输出反映比较和接触检查结果的通过/失败信号。 它支持电容器泄漏测试和绝缘电阻测试中的高速自动分选。

规格与价格

显示数字数量51/2位数字
电压测量输入阻抗2×1014Ω
测量范围10 μV~200 V
电流测量测量方法

积分

测量范围1 fA~30 mA
电阻测量测量范围（当前应用方法10 mΩ~200 GΩ
测量范围（电压施加方法100 Ω～2×101 7Ω
电荷测量测量范围1 fC~10 μC
电压产生分布范围±200伏
解决1 mV
采样率330次/秒
测序函数〇
界面GPIB
处理器 IF〇
模拟输出

〇*1