Shimadzu岛津 分析和测量仪器 SolidSpec-3700i

产品目录

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 SolidSpec-3700i

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 SolidSpec-3700i

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 SolidSpec-3700iShimadzu岛津 分析和测量仪器 SolidSpec-3700i双探测器模型与三探测器模型的比较除了光电倍增管（PMT）和冷却式硫化铅（PbS）探测器外，还采用了新型的铟镓砷（InGaAs）探测器。与双探测器模型（PMT、PbS）相比，InG…

产品详情

Product Detail

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   SolidSpec-3700i

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   SolidSpec-3700i




双探测器模型与三探测器模型的比较

除了光电倍增管（PMT）和冷却式硫化铅（PbS）探测器外，还采用了新型的铟镓砷（InGaAs）探测器。
与双探测器模型（PMT、PbS）相比，InGaAs探测器在900-1600 nm波段的噪声显著降低。


高精度测量，检测器切换步骤极少

尽管切换探测器时不可避免地会产生一些台阶和冲击声，但 SolidSpec-3700i/SolidSpec-3700i DUV 最大限度地减少了这些台阶。


用于深紫外测量的积分球

 

即使在190 nm附近的波长范围内，它也能获得低噪声光谱，而使用传统分光光度计很难高精度地测量该波长范围。
这种在该波长范围内进行测量的能力使其能够有效地测量ArF准分子激光器的半导体相关材料。

左侧光谱显示了使用连接到 SolidSpec-3700i DUV 的深紫外积分球和连接到 SolidSpec-3700i 的标准积分球测量的 100% 基线。