Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-7200

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Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-7200

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-7200

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-7200Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-7200主要规格测量原理X射线荧光分析测量方法能量分散测量目标固体/液体/粉末测量范围11Na至92U样品室尺寸最大尺寸为 300（宽）x 275（深）x 约 100（高）毫米（不含 R 部分）最大样品质量5…

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Product Detail

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   EDX-7200

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   EDX-7200





主要规格

测量原理X射线荧光分析
测量方法能量分散
测量目标固体/液体/粉末
测量范围11Na至92U
样品室尺寸最大尺寸为 300（宽）x 275（深）x 约 100（高）毫米（不含 R 部分）
最大样品质量5 公斤（使用转盘时每个样品 200 克，总重量 2.4 公斤）

X射线发生装置

X射线管Rh 目标值（标准型/高级型）*1
电压4至50千伏
当前的1 至 1000 微安
冷却方法风冷式（带风扇）
照射区域φ1、3、5、10 毫米：4 种类型自动互换（φ0.3、1、3、10 毫米：4 种类型自动互换）*2
一级滤波器5种类型（含OPEN共6种类型）自动兑换

探测器

模型硅漂移探测器（SDD）
液氮供应无需（电子冷却）

样品室

测量大气大气，真空*2，氦气*2
样品交换12 个样品炮塔*2
样本观测CMOS相机

数据处理部分

中央处理器英特尔酷睿 i5 或更高版本
记忆16GB 或更多
贮存500GB 或以上的固态硬盘
光驱超级多驱动
操作系统Windows® 11专业版*3

软件

定性分析测量和分析软件
定量分析校准曲线法、共存元素校正
FP法、薄膜FP法、背景FP法
匹配软件强度/含量
公用事业自动校准功能（能量校准、半宽度校准）
其他的设备状态监控功能、分析结果表格功能

关于安装

温度10 至 30°C（温度变化在 2°C/小时以内，温度波动范围不超过 10°C）。
但是，当使用真空测量单元（可选）时，测量范围为 12 至 30°C。
相对湿度40%至70%（无冷凝）
电源交流100V±10%，15A接地插座
身体尺寸460（宽）× 590（深）× 360（高）毫米
重量约45公斤