Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-8100

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Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-8100

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-8100

Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-8100Shimadzu岛津 分析和测量仪器 EDX-8100主要规格测量原理X射线荧光分析测量方法能量分散测量目标固体/液体/粉末测量范围6摄氏度至92摄氏度样品室尺寸最大尺寸为 300（宽）x 275（深）x 约 100（高）毫米（不含 R 部分）最大样…

产品详情

Product Detail

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   EDX-8100

Shimadzu岛津   分析和测量仪器   EDX-8100



主要规格


测量原理

X射线荧光分析

测量方法

能量分散

测量目标

固体/液体/粉末

测量范围

6摄氏度至92摄氏度

样品室尺寸

最大尺寸为 300（宽）x 275（深）x 约 100（高）毫米（不含 R 部分）

最大样品质量

5 公斤（使用转盘时每个样品 200 克，总重量 2.4 公斤）

参见 
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X射线发生装置

X射线管

铑靶标

电压

4至50千伏

当前的

1 至 1000µA

冷却方法

风冷式（带风扇）

照射区域

φ1、3、5、10mm：4 种类型自动更换（可选：φ0.3、1、3、10mm：4 种类型自动更换）

一级滤波器

5种类型（含OPEN共6种类型）自动兑换

参见 
关闭 

探测器

模型

硅漂移探测器（SDD）

液氮供应

无需（电子冷却）


样品室

测量大气

大气、真空（可选）、氦气（可选）

样品交换

12 样品转盘（可选）

样本观测

CMOS相机