Shimadzu岛津分析和测量仪器 ZSX Primus IV

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Shimadzu岛津分析和测量仪器 ZSX Primus IVShimadzu岛津分析和测量仪器 ZSX Primus IV这是一台顶部照明式扫描X射线荧光分析仪。该仪器配备了“ZSX 指导”系统，可辅助测量和分析，即使是初学者也能轻松获得准确的分析结果。数字计数系统、高速测角仪和优化的控…

Shimadzu岛津分析和测量仪器 ZSX Primus IV

这是一台顶部照明式扫描X射线荧光分析仪。

该仪器配备了“ZSX 指导”系统，可辅助测量和分析，即使是初学者也能轻松获得准确的分析结果。

数字计数系统、高速测角仪和优化的控制系统实现了高速、高精度的测量。得益于人工多层沉积膜和真空控制机制，该仪器还能测量超轻元素。

这款高规格型号的设计注重安全保障，包括防止人为错误的功能，还配备了点映射分析和散射辐射 SQX 功能。

规格

特征

顶部照明方法

顶部照明法可安全用于常规分析。即使粉末样品中的粉末发生散射，也不会影响光学系统。无需使用薄膜保护样品。

定量应用自动设置功能

只需输入标准样品的标准值和样品信息，分析线和光学系统设置、共存元素校正和重叠校正就会自动设置，即使是初学者也能轻松存储校准曲线。

用于薄膜厚度和粘附量分析的最佳测量线搜索和分析评估程序

您可以获得能够进行最精确分析的分析线组合、分析线的分析深度信息、上层吸收率的模拟结果以及干涉线信息。

“易于分析”且操作性能优异

“简易分析”整合了日常分析所需的操作，只需轻轻一点即可调出一系列分析设置，并将常用应用程序注册为“收藏夹”。

快速分析

通过高速样品传输、高速驱动测角仪、高速数据处理以及对各驱动单元的高效控制，处理量得到了显著提升。定性分析时间可缩短约 40%，定量分析时间可缩短约 20%（与我们之前的型号相比），从而提高了单位时间内处理的样品数量。

高精度测量

X射线计数系统采用数字多通道分析器（D-MCA）。高速数字处理可在高计数率范围内实现计数线性度，从而提高分析精度。最大计数率（计数线性度1%）：SC 1800千次/秒，F-PC 3000千次/秒

防止人为错误

可以为每位操作员设置软件访问级别。这可以防止新手操作失误导致数据库发生更改或删除。程序菜单的显示/隐藏设置可以针对每个用户级别进行详细选择，从而避免人为错误。

利用WDX系统进行点映射分析

该仪器配备高分辨率摄像头，可清晰显示整个样品图像中指定区域的放大图像。即使在微小区域内，也能精确定位。此外，r-θ 样品台可对所有测量位置进行相同灵敏度的测量，从而实现精确分析。